Difratômetro de raios x para material policristalino
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Projeto de Pesquisa
Date
2012-10-17
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Authors
Carrio, Juan Alfredo Guevara
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Abstract
Obtenção e instalação de um difratômetro de raios x para uso em análises qualitativas, quantitativa e estruturais no Laboratório de Síntese e Caracterização de Materiais da Escola de Engenharia da UPM.
Description
Keywords
difratômetro , raios x , materiais , cristalografia , rietveld , policristalinos