Difratômetro de raios x para material policristalino
dc.contributor.author | Carrio, Juan Alfredo Guevara | por |
dc.date.accessioned | 2016-11-29T22:23:14Z | |
dc.date.available | 2016-11-29T22:23:14Z | |
dc.date.issued | 2012-10-17 | por |
dc.description.abstract | Obtenção e instalação de um difratômetro de raios x para uso em análises qualitativas, quantitativa e estruturais no Laboratório de Síntese e Caracterização de Materiais da Escola de Engenharia da UPM. | por |
dc.identifier.uri | http://dspace.mackenzie.br/handle/10899/14609 | |
dc.publisher | Instituto Presbiteriano Mackenzie | por |
dc.subject | difratômetro | por |
dc.subject | raios x | por |
dc.subject | materiais | por |
dc.subject | cristalografia | por |
dc.subject | rietveld | por |
dc.subject | policristalinos | por |
dc.title | Difratômetro de raios x para material policristalino | por |
dc.type | Projeto de Pesquisa | por |
local.publisher.department | Depto. de Engenharia dos Materiais (EE), Depto. Física (CCH) | por |
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