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Tipo do documento: Projeto de Pesquisa
Título: Difratômetro de raios x para material policristalino
Autor: Carrio, Juan Alfredo Guevara
Resumo: Obtenção e instalação de um difratômetro de raios x para uso em análises qualitativas, quantitativa e estruturais no Laboratório de Síntese e Caracterização de Materiais da Escola de Engenharia da UPM.
Palavras-chave: difratômetro;  raios x;  materiais;  cristalografia;  rietveld;  policristalinos
Instituição: Instituto Presbiteriano Mackenzie
Departamento: Depto. de Engenharia dos Materiais (EE), Depto. Física (CCH)
URI: http://dspace.mackenzie.br/handle/10899/14609
Data de defesa: 17-Out-2012
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