A simple method for characterizing the dispersion of epsilon-near zero materials
Tipo
Artigo de evento
Data de publicação
2018
Periódico
Optics InfoBase Conference Papers
Citações (Scopus)
0
Autores
Alvarenga V.T.
De Matos C.J.S.
De Matos C.J.S.
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Resumo
© 2018 The Author (s).We determine the dielectric function spectrum of a material in the 0-1 range, by analyzing the reflectance spectrum as a function of incidence angle. Results obtained for silicon carbide closely match data from the literature.
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Palavras-chave
Assuntos Scopus
Dielectric function spectra , Epsilon-near zeros , Incidence angles , Reflectance spectrum , SIMPLE method