Estudo da orientação preferencial pelo método de Rietveld em amostras de ligas de alumínio
Tipo
Dissertação
Data
2010-02-09
Autores
Fambrini, Affonso Sérgio
Orientador
Carrió, Juan Alfredo Guevara
Título da Revista
ISSN da Revista
Título de Volume
Membros da banca
Monteiro, Waldemar Alfredo
Santos, Denise Ribeiro dos
Santos, Denise Ribeiro dos
Programa
Engenharia de Materiais
Resumo
Este trabalho está baseado em pesquisa realizada pelo grupo que estudou a orientação preferencial dos planos cristalográficos de materiais policristalinos. Ele tem como objetivo desvendar as equações envolvidas e dar continuidade ao estudo por difração por raios X da textura cristalográfica em um material metálico policristalino. Para isso foi utilizado o GSAS (Estrutura Geral de Sistema de Análise) que é um pacote de programação livre de cristalografia, criado pelos cientistas Allen C. Larson e Robert B. Von Dreele em 1991, o qual utiliza o método de Rietveld para fazer análise de dados coletados por difração de nêutrons e de raios X. Para atingir o objetivo deste trabalho, que é analisar os planos de orientação preferencial, partiu-se de equações complexas que foram estabelecidas no estudo de cristalografia e são fornecidas no manual GSAS.
Descrição
Palavras-chave
cristalografia , método de Rietveld , difração , GSAS (General Structural Analysis System) , crystallography , Rietveld method , diffraction , GSAS (General Structural Analysis System)