Estudo da orientação preferencial pelo método de Rietveld em amostras de ligas de alumínio
Abstract
This work is based on research conducted by the group that studied the preferred orientation of crystallographic planes of polycrystalline materials by a systematic carefull analysis of the mathematical equations envolved. It aims to continue the X rays diffraction study on the crystallographic texture in polycrystalline metallic materials by a systematic carefull analysis of the mathematical equations envolved. For this purpose we used the GSAS (General Structural Analysis System) a package free software, created by scientists Allen C. Larson and Robert B. Von Dreele in 1991, which uses the Rietveld method to analyze data collected by neutrons or X rays diffraction, text repeated in the footnote. The equations used in this work were established in the study of crystallography and are provided in the GSAS manual.
Summary
Este trabalho está baseado em pesquisa realizada pelo grupo que estudou a orientação preferencial dos planos cristalográficos de materiais policristalinos. Ele tem como objetivo desvendar as equações envolvidas e dar continuidade ao estudo por difração por raios X da textura cristalográfica em um material metálico policristalino. Para isso foi utilizado o GSAS (Estrutura Geral de Sistema de Análise) que é um pacote de programação livre de cristalografia, criado pelos cientistas Allen C. Larson e Robert B. Von Dreele em 1991, o qual utiliza o método de Rietveld para fazer análise de dados coletados por difração de nêutrons e de raios X. Para atingir o objetivo deste trabalho, que é analisar os planos de orientação preferencial, partiu-se de equações complexas que foram estabelecidas no estudo de cristalografia e são fornecidas no manual GSAS.
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CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICA