Neste trabalho foi realizada a caracterização elétrica e morfológica de diferentes
amostras de grafeno (monocamada, policristalino, de grande área, puro e transferido para
substrato funcional de quartzo) obtidos pelo método de crescimento de deposição química
na fase de vapor (CVD) e posteriormente funcionalizados por adsorção com moléculas
orgânicas de ftalocianina base livre, utilizando um Microscópio de Força Atômica
(AFM). Na análise das heteroestruturas híbridas de van der Waals (vdWHs) resultantes,
dois modos do AFM foram utilizados, a Microscopia de Força Atômica Condutiva1, que
permite obter diretamente a condutividade local através da superfície da amostra
juntamente com suas característica nanomecânicas, seu aspecto e sua topografia; e a
Microscopia de Força Atômica, modo de imagem do AFM para análise morfológica, que
permite obter imagens 2D e 3D da superfície da amostra, com a sua topografia.
