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dc.creatorCarrio, Juan Alfredo Guevarapor
dc.date.accessioned2016-11-29T22:23:14Z
dc.date.available2016-11-29T22:23:14Z
dc.date.issued2012-10-17por
dc.identifier.urihttp://dspace.mackenzie.br/handle/10899/14609
dc.publisherInstituto Presbiteriano Mackenziepor
dc.subjectdifratômetropor
dc.subjectraios xpor
dc.subjectmateriaispor
dc.subjectcristalografiapor
dc.subjectrietveldpor
dc.subjectpolicristalinospor
dc.titleDifratômetro de raios x para material policristalinopor
dc.typeProjeto de Pesquisapor
dc.publisher.departmentDepto. de Engenharia dos Materiais (EE), Depto. Física (CCH)por
dc.description.resumoObtenção e instalação de um difratômetro de raios x para uso em análises qualitativas, quantitativa e estruturais no Laboratório de Síntese e Caracterização de Materiais da Escola de Engenharia da UPM.por


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